開爾文探針掃描是一種基于振動(dòng)電容的非接觸無損氣相環(huán)境金屬表面電位的測(cè)量技術(shù)，用于測(cè)量材料的功函數(shù)(WorkFunction)或表面勢(shì)(SurfacePotential)。它可以用于檢測(cè)氣相環(huán)境中因溫度、濕度、表面的化學(xué)、電學(xué)、力學(xué)、晶體、吸附、成膜等因素引起的材料表面電勢(shì)的微小變化，是一種高靈敏的表面電化學(xué)分析技術(shù)，是能夠測(cè)定氣相環(huán)境中腐蝕電極表面電位的方法。
特點(diǎn)：
(1)高速高分辨電位分布測(cè)量功能。
(2)快速變化電位分布測(cè)量功能。
(3)低噪聲電位分布測(cè)量功能。
(4)智能調(diào)試功能。
(5)實(shí)時(shí)測(cè)量顯示功能。
(6)電位分布數(shù)據(jù)解析功能。
(7)表面探針狀態(tài)監(jiān)測(cè)功能。
(8)探針高度自動(dòng)測(cè)量功能。
(9)探針-樣品防碰撞報(bào)警功能。
(10)移動(dòng)平臺(tái)超限報(bào)警功能:具有X、Y、Z三軸正負(fù)方向超限報(bào)警停止移動(dòng)功能。
(11)掃描方案定制功能:包括定時(shí)自動(dòng)重復(fù)-分區(qū)-定點(diǎn)/掃描測(cè)量和自動(dòng)返回起點(diǎn)功能。
開爾文探針掃描應(yīng)用于以下領(lǐng)域:
(1)薄液膜(2~3000微米)金屬的電化學(xué)行為(極化曲線、電化學(xué)阻抗)。
(2)沉積物和氣相環(huán)境因素對(duì)大氣腐蝕行為影響。
(3)材料大氣腐蝕行為。
(4)氣相環(huán)境電偶腐蝕行為。
(5)氣相環(huán)境金屬局部腐蝕行為。
(6)氣相環(huán)境金屬應(yīng)力腐蝕行為。
(7)氣相環(huán)境金屬滲氫行為。
(8)涂層失效行為與涂層性能評(píng)價(jià)。
(9)氣相緩蝕劑性能和作用機(jī)理。
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