薄膜電阻及厚度測(cè)試儀采用渦流檢測(cè)技術(shù)，可按照需求配置單個(gè)或多個(gè)針對(duì)不同樣品的高敏感探頭進(jìn)行測(cè)量，并通過(guò)顯示模塊輸出。檢測(cè)最終輸出結(jié)果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導(dǎo)(Mhos/sq），厚度(單位：um）等。

薄膜電阻及厚度測(cè)試儀渦流技術(shù)
渦流檢測(cè)儀的基本要素是感應(yīng)探頭。通過(guò)交流電流產(chǎn)生一個(gè)磁場(chǎng)，當(dāng)磁場(chǎng)與導(dǎo)電材料接觸時(shí)，則會(huì)在該材料中感應(yīng)到渦流。測(cè)試材料的特性可產(chǎn)生一系列獨(dú)特結(jié)果，可用來(lái)測(cè)量材料的薄膜電阻。 評(píng)估對(duì)象僅限與材料接觸的磁場(chǎng)。此磁場(chǎng)相對(duì)較弱，不會(huì)產(chǎn)生熱能，因此不會(huì)破壞材料。渦流技術(shù)相比接觸式測(cè)量法（例如四探針測(cè)試法）有著諸多優(yōu)勢(shì),與此同時(shí)：
不破壞材料
讀取絕緣層內(nèi)的導(dǎo)電層
采樣頻率高達(dá)數(shù)萬(wàn)。

?典型用途
防靜電/導(dǎo)電薄膜
天線
汽車
電池
裝飾薄膜/紙張
顯示器
花線電路和柔性電路板
電鍍
玻璃窗
金屬化電容用箔
金屬化標(biāo)簽
微波感應(yīng)器
包裝
雷達(dá)吸波材料
反射和反光材料
半導(dǎo)體
太陽(yáng)能
透明導(dǎo)電膜