優(yōu)良的動(dòng)態(tài)TOF-SIMS團(tuán)簇離子束 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀，它使用直流主束和革命性的飛行時(shí)間分析儀，創(chuàng)建了成像質(zhì)譜的新范式。直流一次離子束的使用允許快速成像和連續(xù)數(shù)據(jù)采集（即沒有單獨(dú)的蝕刻周期），同時(shí)提供高空間和質(zhì)量分辨率。

團(tuán)簇離子束 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀的特點(diǎn)：

離子束帶來高分子量分析和高空間分辨率

四種離子束可選擇

用氣體團(tuán)簇離子束SIMS，可以分析高達(dá)3000Da的分子量

無“僅蝕刻"循環(huán)的深度剖面。

快速、連續(xù)采集

冷樣品處理

氣敏和冷凍樣品,可配置手套箱

高級(jí)數(shù)據(jù)查看功能

可以配備一系列用于分析的離子束，包括40kV C60、40kV或70kV氣體團(tuán)簇離子束和25kV金離子束，使其成為廣泛材料分析的理想解決方案。團(tuán)簇離子束使有機(jī)物的分析不需要碎裂，顯示出高達(dá)3000Da的分子量，具有良好的靈敏度。

分析儀是一個(gè)雙聚焦組合，由一個(gè)成形的場(chǎng)聚束器和一個(gè)非線性反射管組成，提供低于5ppm的質(zhì)量精度和MS-MS操作。獨(dú)特特性使其成為粗糙表面樣品分析的理想選擇，在高度變化數(shù)百微米的樣品中保持一致的質(zhì)量校準(zhǔn)和質(zhì)量精度。

通過冷樣品處理、便于分析冷凍水化或凍干樣品的原位冷凍破裂系統(tǒng)和處理空氣敏感樣品的手套箱，為您提供了比以往任何時(shí)候都更多的樣品分析工具。

我們系統(tǒng)是SIMS儀器中的一個(gè)新概念，其設(shè)計(jì)主要是為了在一系列樣品上使用不同類型的離子束進(jìn)行分析。通過將質(zhì)量分析與主離子束在樣品上的作用分離，避免了質(zhì)量和空間分辨率以及采集速率之間的權(quán)衡。

操作時(shí)不需要一次離子束的快速脈沖來執(zhí)行TOF-SIMS。相反，它使用一個(gè)獨(dú)特的雙聚焦飛行時(shí)間質(zhì)量分析儀，由一個(gè)成形的場(chǎng)聚束器和一個(gè)非線性反射管組成。聚束器從碰撞冷卻的二次離子中提取一部分，并對(duì)其進(jìn)行壓縮以形成時(shí)間焦點(diǎn)。在聚束器之后放置一個(gè)非線性反射管，以提供第二個(gè)飛行時(shí)間段。與傳統(tǒng)的TOF相比，這種設(shè)計(jì)有許多好處——由于質(zhì)譜儀與主束和樣品分離，質(zhì)量分辨率和質(zhì)量精度都與主束或樣品類型無關(guān)——使您在所有樣品和主束類型上都具有一致的性能。

不依賴于一次離子束的快速脈沖提供時(shí)間參考，因此儀器上的任何束都可以用于分析，而不會(huì)影響性能。此外，每束光可以在其最佳直流光斑尺寸下使用，因此質(zhì)量分辨率和空間分辨率之間都是優(yōu)化的。

腔室上最多可包括3種離子束。選擇包括金，C60，氣體團(tuán)簇，和等離子體-每一個(gè)適合特定的樣品類型或?qū)嶒?yàn)，如下所示。

質(zhì)量校準(zhǔn)和精度

質(zhì)量校準(zhǔn)和質(zhì)量精度僅是質(zhì)譜儀的一個(gè)功能，不受樣品或一次離子束的影響。這意味著樣品高度或充電狀態(tài)的變化不會(huì)改變校準(zhǔn)或質(zhì)量精度，這與其他TOF儀器不同。這種能力使得對(duì)大樣本、高結(jié)構(gòu)樣本和充電樣本的分析更加簡(jiǎn)單。

分析的樣品面積為2200μm x 2200μm

擴(kuò)展質(zhì)量范圍

諸如Bi3+的常規(guī)離子束在撞擊時(shí)引起表面分子的顯著碎裂，具有可達(dá)約500Da的可用質(zhì)量范圍，并產(chǎn)生復(fù)雜的碎片光譜以進(jìn)行分析。然而，對(duì)于許多實(shí)驗(yàn)來說，感興趣的物種遠(yuǎn)遠(yuǎn)不止于此。像C60這樣的團(tuán)簇離子束和大的氣體團(tuán)簇產(chǎn)生的碎片要少得多，將這個(gè)可用的質(zhì)量范圍擴(kuò)大到3000Da。由于主離子束束被優(yōu)化用于成像，將高分辨率成像與高質(zhì)量分子物種的質(zhì)譜分析相結(jié)合，具有獨(dú)特的位置來開發(fā)這些團(tuán)簇離子束的供給特性。

高質(zhì)量成像SIMS

在該 SIMS中，成像模式和分析模式之間沒有區(qū)別——離子束總是為成像而優(yōu)化，并且每個(gè)獲得的像素都包含一個(gè)完整的光譜。主要變量是主離子束的選擇，它最終決定了橫向分辨力的極限和實(shí)驗(yàn)的可觀測(cè)質(zhì)量范圍。

利用GCIB-SM，我們將氣體團(tuán)簇離子束的橫向分辨能力擴(kuò)展到1μm，使脂類、神經(jīng)節(jié)的苷脂和許多其他代謝重要分子的空間分辨力比以往任何時(shí)候都要高！

深度剖面

該 SIMS非常適合于樣品的深度剖面分析。使用直流離子束進(jìn)行分析的一個(gè)重要方面是，不需要將蝕刻離子束與分析離子束交錯(cuò)。為了能夠在合理的時(shí)間尺度上生成3D圖像，并去除受損的亞表面層，傳統(tǒng)的TOF實(shí)驗(yàn)使用了交錯(cuò)成像和蝕刻循環(huán)，這些循環(huán)浪費(fèi)了寶貴的樣品。在使用C60+或（CO2）n/Arn+等連續(xù)分析離子束，分析和低損傷刻蝕是連續(xù)和并行的，因此沒有數(shù)據(jù)丟失，所有材料都被采樣，使我們 SIMS成為一個(gè)非常精確的深度剖面分析工具。

分析粗糙表面的樣品

在我們 SIMS中，質(zhì)量校準(zhǔn)不依賴于樣品高度。由于質(zhì)量分辨率不受提取區(qū)域條件的影響，因此即使在樣品表面成角度的情況下，也會(huì)優(yōu)化提取光學(xué)元件以實(shí)現(xiàn)高效采集。

MS/MS分析

有時(shí)質(zhì)量精度和質(zhì)量分辨率不足以識(shí)別特定的感興趣峰。在這種情況下，MS/MS分析可用于選擇感興趣的質(zhì)量并將其碎裂，從而產(chǎn)生特征質(zhì)譜。該操作模式直接內(nèi)置于SIMS雙級(jí)分析儀中。通過向接近第一個(gè)焦點(diǎn)的飛行管中注入氣體，由定時(shí)離子門選擇的穩(wěn)定分子離子通過碰撞誘導(dǎo)離解（CID）破碎，產(chǎn)生該物種的特征MS/MS。

溫度和大氣控制的多功能樣品處理

該 SIMS上的多功能樣品處理系統(tǒng)可以分析多種樣品類型。儀器配備液氮冷卻裝置，以便對(duì)揮發(fā)性樣品進(jìn)行分析——冷卻裝置適用于主樣品階段和樣品插入鎖。相反，樣品臺(tái)也可以加熱到600 K。

儀器配有手套箱，用于在干燥氣體下制備和插入空氣/水敏感樣品，并防止冷卻過程中結(jié)冰。由于小容量負(fù)載鎖定和高泵送速度，樣品插入很快。

冷試樣斷裂“捕鼠器"裝置可用于真空和冷卻條件下的試樣斷裂。液體懸浮液的樣品可以夾在金屬鉸鏈的兩個(gè)面之間。一旦凍結(jié)，組件就可以在冷卻狀態(tài)下轉(zhuǎn)移到真空狀態(tài)，一旦在真空狀態(tài)下，設(shè)備就被觸發(fā)打開并呈現(xiàn)兩個(gè)干凈、未解凍、斷裂的表面以供分析。