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校正晶圓標準片，用于Tencror Sufscan ,Hitach 和KLA-Tencor等設備的校準晶圓標準片和絕對校準標準片。

掃描 開爾文探針不僅可以測量樣品單個點的接觸電位差 （CPD），還可以掃描整個樣品表面。

量子效率測量站是用于太陽能電池光譜響應研究的完整實驗裝置。樣品由光柵產(chǎn)生的單色光束照射，入口處有兩種類型的光源：氙燈和鹵素燈。

熒光分光光度計：用于電化學樣品中的熒光研究， 研究光譜范圍廣、測量靈敏度高、光源強度穩(wěn)定 該儀器設計用于電化學樣品（固態(tài)和液態(tài)）中的熒光研究。能夠捕獲樣品的發(fā)射光譜和激發(fā)光譜。

科學級—開爾文探針可以精確測量不同半導體和導電材料的功函數(shù)，具有較高的精度和準確性。

時間分辨阻抗譜分析儀測量流經(jīng)樣品的電流和樣品上的電壓，以響應作為頻率疊加產(chǎn)生的電壓信號。

強度調(diào)制光電流和光電壓光譜系統(tǒng)，與使用 IUPAC（逆符號）約定的恒電位測量（世界上所有恒電位儀采用）相比，當前假設的符號約定是正常的。

電化學開爾文探針，的關鍵元件是電化學比色皿套件，其中樣品直接放置在比色皿的頂部。