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校正晶圓標(biāo)準(zhǔn)片，用于Tencror Sufscan ,Hitach 和KLA-Tencor等設(shè)備的校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)片和絕對(duì)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。

掃描 開(kāi)爾文探針不僅可以測(cè)量樣品單個(gè)點(diǎn)的接觸電位差 （CPD），還可以掃描整個(gè)樣品表面。

量子效率測(cè)量站是用于太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)研究的完整實(shí)驗(yàn)裝置。樣品由光柵產(chǎn)生的單色光束照射，入口處有兩種類型的光源：氙燈和鹵素?zé)簟?/p>

熒光分光光度計(jì)：用于電化學(xué)樣品中的熒光研究， 研究光譜范圍廣、測(cè)量靈敏度高、光源強(qiáng)度穩(wěn)定 該儀器設(shè)計(jì)用于電化學(xué)樣品（固態(tài)和液態(tài)）中的熒光研究。能夠捕獲樣品的發(fā)射光譜和激發(fā)光譜。

科學(xué)級(jí)—開(kāi)爾文探針可以精確測(cè)量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，具有較高的精度和準(zhǔn)確性。

時(shí)間分辨阻抗譜分析儀測(cè)量流經(jīng)樣品的電流和樣品上的電壓，以響應(yīng)作為頻率疊加產(chǎn)生的電壓信號(hào)。

強(qiáng)度調(diào)制光電流和光電壓光譜系統(tǒng)，與使用 IUPAC（逆符號(hào)）約定的恒電位測(cè)量（世界上所有恒電位儀采用）相比，當(dāng)前假設(shè)的符號(hào)約定是正常的。

電化學(xué)開(kāi)爾文探針，的關(guān)鍵元件是電化學(xué)比色皿套件，其中樣品直接放置在比色皿的頂部。